Вплив технологічних чинників на якість приладових структур

Автор(и)

  • Оксана Небеснюк Запорізький національний університет, Україна
  • Аліна Ніконова Запорізький національний університет, Україна
  • Дмитро Алексієвський Запорізький національний університет, Україна
  • Зоя Ніконова Запорізький національний університет, Україна

DOI:

https://doi.org/10.25140/2411-5363-2024-1(35)-75-80

Ключові слова:

епітаксійні композиції; напівпровідникові прилади; бездислокаційний кремній; дефекти; відпал; пластина

Анотація

Застосування методу інтерферометрії дало можливість суттєво доповнити та уточнити інформацію про морфологію, характер дефектів нарощених шарів епітаксійних композицій (ЕК), виявлених методами вибіркового травлення за допомогою металографічного мікроскопа. Порівняльним дослідженням ступеня дефектності пластин після кожного з етапів їх виготовлення встановлено, при яких операціях технологічного процесу утворюються конкретні види дефектів. Запропоновано методику отримання якісних напівпровідникових приладів та інтегральних схем на основі різних видів ЕК з високим питомим опором робочого шару.

 

Біографії авторів

Оксана Небеснюк, Запорізький національний університет

кандидат технічних наук, доцент кафедри електроніки, інформаційних систем та програмного забезпечення Інженерний навчально-науковий інститут ім. Ю. М. Потебні

Аліна Ніконова, Запорізький національний університет

кандидат технічних наук, професор кафедри електроніки, інформаційних систем та програмного забезпечення  Інженерний навчально-науковий інститут ім. Ю. М. Потебні

Дмитро Алексієвський, Запорізький національний університет

доктор технічних наук, доцент кафедри електроніки, інформаційних систем та програмного забезпечення  Інженерний навчально-науковий інститут ім. Ю. М. Потебні

Зоя Ніконова, Запорізький національний університет

кандидат технічних наук, доцент кафедри електроніки, інформаційних систем та програмного забезпечення Інженерний навчально-науковий інститут ім. Ю. М. Потебні

Посилання

Jyi-Tsong, L. (2019). A novel planar-type body connected FinFET device fabricated by self-align isolation-last process. Solid-State and Integrated Circuit Technology. New technolo-gies. https://www.researchgate.net/publication/224205328_A_novel_planar-type_body-connected_FinFET_device_fabricated_by_self-align_isolation-last_process.

Odinokov, V.V., Pavlov, G.Ya. (2011). New processing equipment for innovative tech-nologies micro, nano - and radio electronics. Technology and designing in the electronic equip-ment, 3, 41-43.

Levinson, D.I., Nikonov, A.Y., Nebesnyuk, O.Y. (2013). Modeling the distribution of impurities in the preparation of heavily instrumental silicon layers using high-energy treatment. Scientific researches and their practical application. Modern state and ways of development, 10-13.

Green, M.A. (2012). Third generation photovoltaics: solar cells for 2020 and beyond. Physica E Low-dimensional Systems and Nanostructures, (14(1)), 65-70.

Brown, A. S., Green, M. A. (2011). Limiting efficiency of multiple band solar cells. Pro-ceedings of the 17th European Photovoltaic Solar Energy Conference (pз. 246–249). Kyiv.

Norman, A.G., Hanna, M.C., Dippo, P. et al. (2015). InGaAs/GaAs QD superlattices: MOVPE growth, structural and optical characterization, and application in intermediate-band solar cells. Proceedings of the 31st IEEE Photovoltaics Specialists Conference and Exhibition (рр. 3-7). Florida, USA.

Maronchuk, I.E., Erochin, S.Yu., Kulutkina, T.F. et al. (2013). Solar cells heterostructures with InAs quantum dots obtained by liquid phase epitaxy. Third World Conference on Photovol-taic Energy Conversion (pр. 11–18). Osaka, Japan.

King, R.R., Law, D.C., Fetzez, C.M., Sherif, R.A., Edmondson, K.M., Kurtz, S. (2015). Pathways to 40% Efficient Concentrator Photovoltaics. Proceedings 20th European Photovoltaic Solar Energy Conference (рр. 30-37). Barcelona, Spain.

Nebesniuk, O.Y., Nikonova, Z.A., Nikonova, A.A. (2022). Technological Features of Re-al Contact Systems Production for Nanosystem Equipment. Journal of Nano- and Electronic Physics, (14(5)), 5-14.

##submission.downloads##

Опубліковано

2024-04-25

Як цитувати

Небеснюк, О., Ніконова, А. ., Алексієвський, Д. ., & Ніконова, З. . (2024). Вплив технологічних чинників на якість приладових структур. Технічні науки та технології, (1 (35), 75–80. https://doi.org/10.25140/2411-5363-2024-1(35)-75-80

Номер

Розділ

ПРИКЛАДНА МЕХАНІКА, МАТЕРІАЛОЗНАВСТВО ТА МАШИНОБУДУВАННЯ